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HTIM-300型高低溫材料電阻率測試儀
HTIM-300高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試,該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發,可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率,可以分析被測樣品電阻和電...
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摩擦納米發電Keithley吉時利6514型靜電計
在高阻抗和低電流測量領域,Keithley吉時利6514型靜電計是重要儀器。它能夠從三個敏感選項中進行選擇,實現J確的測量。其5½位精度,1fA的靈敏度以及大于200TΩ的輸入阻抗,使其在電...
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中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付
中科院上海微系統所定制JKZC-LRT400冷熱臺成功交付中國科學院上海微系統與信息技術研究所是我國著名的技術學科綜合性研究所之一,前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來,上海微...
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TDJC-5000型電滯回線及高電壓介電擊穿強度
TDJC-5000型電滯回線及高電壓介電擊穿強度測試系統是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對...
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GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量
GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量系統應用于高溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析,通過配置不同的測試設備,完成不同參數的測試。是一款超低頻高低溫四通道介電測試系統,科研級別是國...
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GLRT-600型高低溫探針臺
GLRT-600型高低溫探針臺根據制冷方式分為液氮制冷和GM制冷機兩種,溫度范圍從-260℃度到600℃C可控。產品兼容低至1pA的直流信號,50GHz的高頻信號以及1KV的高壓信號;顯微鏡、探針、變...
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BLRT-600型背面探針型冷熱臺
BLRT-600型背面探針型冷熱臺適合電極在樣品背面的情況,探針可耐受高低溫環境重復使用。上部觀察窗口離樣品距離較遠,不需要進行氣體吹掃來防止窗口表面結露。提供外部接線盒,用于信號切換,結合外部的濕度...
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ZLRT-600型正面探針型冷熱臺
ZLRT-600型正面探針型冷熱臺適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況,測試探針可前后伸縮和自由轉動,因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況,可選擇不同材質和觸點形狀的探針。配套:A2505(...
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CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺
CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺采用高溫加熱元件,可以在1200℃下長期穩定使用;采用高溫陶瓷固定探針臂,保證高溫下探針穩定可靠;可增加一路溫度信號,用于和其它測試軟件結合;配套:A2505(...
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1600℃絕緣材料超高溫電阻率測試儀
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化,最大2000V,最快6.4ms的采集系統,實現了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量,作為皮安表使用進行低電容檢查,最高2&...
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精科智創PVDF薄膜材料鐵電測試儀
本測試系統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計算機及系統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器...
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無鉛壓電陶瓷D33測試儀
ZJ-3型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量儀)是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器,它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷,小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料,PVDF薄膜壓樣品。ZJ-4擴展...
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