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    型號:
    非標探針臺/微型/光電流測試顯微鏡

    描述:非標探針臺/微型探針臺/倒裝手動測試夾具/光電流測試顯微鏡/TEC制冷卡盤/磁場探針臺(無磁設計)/110g以上高頻測試探針臺/自動測試系統/可升降平臺/高精度納米探針座/毫米級手持式探針夾具/毫米級手持式探針夾具/FA失效分析探針臺

    • 廠商性質

      生產廠家
    • 更新時間

      2025-03-20
    • 訪問量

      903
    詳細介紹
    品牌其他品牌產地類別國產
    應用領域能源,電子/電池,電氣,綜合

    非標探針臺

    I (1)微型探針臺

    微型探針臺.jpg

    •整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg

    •雙探針座平臺鍍鏢設計,提高了針座平臺和針座之間的吸附力;

    • ChJKZC-UCk XY微分頭設計,行程25mm*25mm,精度2um

    • ChJKZC-UCk大小2英寸,中心吸附孔和多圈吸附環固定樣品,均獨立控制;

    •卡盤電學獨立懸空,帶4mm香蕉頭插口,可以作為背電極使用;

    -臺體底板帶高性能防震海綿,可一定程度減小外界震動對測試的干擾;

    •整機人體工程學設計,操作簡單,使用便捷。

    | (2)倒裝手動測試夾具


    倒裝手動測試夾具.jpg

    -可給樣品加載DC或者RF信號;

    樣品可在0~180度任意角度內進行旋轉并固定;

    -具備微調功能,精度0.1度;

    •玻璃樣品載臺,高透光性;

    •可無磁化設計,在光學,電磁等環境中運用較為廣。

    | (3)光電流測試顯微鏡

    光電流測試顯微鏡.jpg

    -可在原有光路基礎上可以導入另一路光源,用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下電學性能;

    -顯微鏡設計為雙光路或3光路,其中一路為導入光通路,另一到兩路為成像光路導入光為平行的激光或其它線性光源 ,波長范圍200nm~20000nm,中間可加入多個波片過濾,起偏及偏振角度無級360度調節。光斑輻照直徑有650nm紅光 指示。所有模塊均可拉出設計,對導入光性質無影響;

    -導入光光路可選擇光時間開關,精確控制導入光的輻照時間,精度1ms,范圍2ms~oo,在控制界面上可對各種參數進 行詳細設置,成像光路為同軸照明金相成像,其中一路為1倍成像,可選擇第2路成像,為物鏡的0.25-10倍率,通常在高 低溫測試系統里會用到,同一個物鏡不切換,得到兩個不同視野的成像。


    (4)TEC制冷卡盤

    TEC制冷卡盤.jpg

    •釆用TEC制冷,無需液氮,使用方便;

    可給樣品提供不同溫度環境;

    -樣品臺大小可選,防干擾設計,具備良好的接地性能;

    溫度范圍:45°C~150°C,溫度分辨率:0.1°C,

    溫度穩定性:土 0.3°C

    樣品臺微調升降,行程0-10mm,精度10um.

     (5)磁場探針臺(無磁設計)

    磁場探針臺(無磁設計).jpg

    •在探針臺的基礎上,可加載三維磁場,多維磁場,磁場強度,精度和間隙均可調整;

    -高剛性結構,所有零配件均采用無磁化材料;

    -可加載高低溫,可同時進行DCRF測試;

    可以旋轉,科客制化。


    |⑹110g以上高頻測試探針臺

    110g以上高頻測試探針臺.jpg

     

    -可配合市場主流擴頻模塊進行超高頻測試;

    大行程高精度探針座,X-Y-Z-Theta四軸控制

    -顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內移動,擴大了顯微鏡視場;

    -兼容直流與高頻信號;

    -可以定制,可升級性強;

    -最大可以測試12英寸樣品,探針臺chJKZC-UCk具備升降功能,便于樣品和 探針的快速分離。


    (7)自動測試系統

    自動測試系統.jpg

    -自動探針測試系統,可以與半參,網分聯動;

    -電動二維平臺,可手動和電動操作;

    • ChJKZC-UCk XY軸運動行程100*100mm,復定位精度<±lum

    • X-Y軸驅動:電機+絲桿+光柵尺;

    -探針/光纖探針XYZ軸電動模塊30*30*30mm,復定位精度W ±lum

    -X-Y-Z軸驅動:電機+絲桿+光柵尺。

    | (8)可升降平臺

    可升降平臺.jpg

    產品型號:T-station

    產品參數:

    -尺寸和重量定制;

    -單個探針座平臺最多可同時放置3個探針座;

    -探針座平臺表面鍍鏢,增大與探針座之間的吸附力;

    -隱匿螺紋固定于標準蜂窩板,美觀,并且方便拆卸;

    -平臺可升降,升降高度和精度可定制;

    -可配合光電流顯微鏡使用。

    | (9)高精度納米探針座

    高精度納米探針座.jpg

    產品型號:JKZC-DCH-20nm

    產品參數:

    -X軸分辨率20nm,行程30um (旋鈕控制盒);

    -YZ軸分辨率10um,行程+-6.5mm

    -釆用高精度壓電陶瓷設計,可以固定步距撥動樣品或者納米線。


    (10)毫米級手持式探針夾具

    產品型號:JKZC-DCH

    產品參數

    •整體尺寸:20*20*180mm;

    -萬向調節旋鈕,方向可調,松緊可調;

    磁吸底座,直徑20mm;

    •兼容彈簧針和晶圓針;

    -Cable接頭可定制三軸,同軸或者其它。

    (11) FA失效分析探針臺

    產品型號:FA

    FA失效分析探針臺.jpg

    產品參數

    •探針臺系統可以選用4~12英寸JKZC-DN系列探針臺。

    •激光系統可以選用美國ESI三波段激光器或者法國 quantel激光器

    •美國ESI (NEWWAVE)激光器參數

    鐳射波長1064532nm355nm

    輸出功率2.2mJ/pulse

    擊打頻率lHz~50Hz

    可加工的材質:Copper/Gold/Poly Silicon/Alu minum/Silicon Dixoide

    最小加工尺寸1微米(使用100X物鏡)

             最大加工尺寸40微米(使用50X物鏡)


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